三坐标系统改造升级培训

针对8年以上三坐标测量机因软件系统,电子系统,控制系统,软件系统,硬件骨子问题造成测量设备无法满足当前需要,而对仪器整体更新升级,而成本只占企业购买新机30-40%左右,性能满足企业生产使用要求。品牌如英国LK,海克斯康,日本三丰,蔡司,温泽,德仁品牌

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一、温度    

1、温度是影响测量机精度的因素

2、在测量机的机房内温度自下而上是逐渐升高的,而且温度每时每刻又都在变化。因此每个轴的光栅温度和零件温度的差别就影响了测量机测量的精度。    

3.不合理的温度控制方法(空调即用即开,测量机不用则关空调),会导致测量室内温度不稳定均衡。测量机的温度也一直在变化,机器处于一种不稳定状态,测量精度会很差。解决办法及要求:    1.在测量机软件中可以用线性修正和温度修正来针对现场检定时的环境情况修正温度影响    

4、电气设备,计算机等热源应与测量机保持一定的距离。    

5、空调应尽量选择控温能力强的变频空调,空调机的安装位置应合理规划。空调风向禁止直接吹到测量机上,由于测量室空间上下温差的关系应将风向调至向上使空气形成大循环,保持室内空气温度均衡。    

6、每天早上上班时打开空调,晚上下班时关闭空调    5.机房要有保温措施,房门窗应关好,减少温度散失,避免阳光照射。    

7、加强测量室管理,不要有多余人员停留。

 

二、 设备精度补偿文件的正确性    

    设备精度补偿文件记录用来记录设备精度误差数据,测量软件是根据它来进行误差补偿的。在安装测量机软件时如果忘记安装补偿文件或将备份的补偿文件丢失,会造成测量机测量精度差,需要重新校验机器精度。解决办法及要求    保管好备份补偿文件并安装好补偿文件。

 

三、三坐标测头校正的正确性,准确性    

测头校验时,校验球及测针的不清洁不牢固及输入了错误的测针长度及标准球直径都会使测量时软件调用测头补偿文件时出现补偿误差或错误,影响测量精度。错误的测针长度及标准球直径都会使测量时软件调用测头补偿文件时出现补偿误差或错误,影响测量精度,甚至造成设备异常碰撞,导致损坏。

解决办法及要求:    

1、保持标准球和测针的清洁。    

2、 保证测座、测头、测针、标准球固定牢靠。     

3、输入正确的测针长度和标准球直径。     

4、根据形状误差和校正出的宝石球直径及重复性判断校正的准确性(加长杆长度不同校正后的宝石球直径会不同)。     

5、要使用不同测头位置时,在校正完所有测头位置后,要通过测量标准球球心点坐标的方法检查校验精度。    

6、在测头、测针动过及测量精度要求比较高的情况下要对测头进行重新校验。

  • 三坐标测量机(CMM)使加工车间能够对用户要求日益严格的零件公差进行检测。但是,用CMM进行精密测量所耗费的时间和精力(取决于CMM的服役年限和复杂程度)往往可能成为生产流程中的一个瓶颈。通过有选择地对CMM进行升级改造和采用多功能CMM技术,有助于提高CMM的测量速度和检测柔性。     

  • CMM的升级改造 对CMM进行升级改造时,首先必须考虑的问题是CMM的机械性能。为此,需要检查CMM的使用状态,如果机械部分状况良好,能够校准和保持精度,那么就适合对其进行升级。如果机械系统已经损坏,丧失了精度,就没有必要对其进行升级改造。

  • 如果一台CMM机械性能完好,比较经济实惠的升级方式就是更新其测量软件。软件升级是CMM改造的工作重点。一个典型实例是升级改造一台已使用了20年,硬件状态良好但软件运行平台仍为DOS操作系统的CMM。用基于Windows操作系统的新型测量软件(如

  • 莱兹LK公司)对其进行更新升级后,就能输入CAD文件,选择测量范围,并自动创建测量程序。这种面向操作者的软件允许脱机编程,可在不中断测量的情况下为检测新的零件进行编程准备。

  • 完成软件升级后,下一个步骤是升级更新CMM控制器。通过更换新型控制器,可以显著提高数据采集的速度和精度,还能为CMM提供信息采集、随机诊断等功能和预检修程序。

  • 完成软件和控制器升级后,更新测头技术也可以显著改善CMM的性能。CMM的标准测头为触发式测头,它的探针与被测工件接触一次,就激活一次发讯开关,记录一个数据点。现在许多触发式测头的性能不断提高和完善,如接触式扫描测头可在触测点与工件保持接触并提供模拟量反馈,连续而快速地记录大量数据点。

  • 传感技术的改进 , 传感器技术的进一步发展包括在不接触工件的情况下采集其尺寸数据的能力。如采用激光测头进行探测时,将一束相干光投射到被测工件表面,通过对反射光信号进行分析,即可记录到单点或多点尺寸数据(如同采用接触式扫描测头时一样)。视频传感系统则采用一台摄像机和一套照明系统,可以同时记录大量数据点,能够精确测量工件的边缘,还能记录接触式测头难以检测的微小形貌。  

   

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